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25.10.2018

Leica DM3 XL

Schnelle Erkennung - schnelle Reaktion
Bei der Inspektion, Prozesskontrolle oder Analyse von Defekten und Fehlern in der Mikroelektronik- bzw. Halbleiterbranche kommt es auf Schnelligkeit an. Je schneller ein Defekt erkannt wird, desto schneller kann darauf reagiert werden.
 
Mit dem einzigartigen Makroobjektiv des DM3 XL profitieren Sie von einem 30% größeren Sichtfeld. Das ermöglicht Ihnen eine schnellere Erkennung von Defekten und steigert Ihren Durchsatz.
 
Zusätzlich nutzt das DM3 XL für alle Kontrastmethoden LED-Beleuchtung. Diese liefert eine konstante Farbtemperatur und bietet Ihnen in allen Intensitätsstufen Echtfarbgebung.
 
- Erhöhung des Durchsatzes
- Entwicklungsfehler am Rand oder im Zentrum eines Wafers zuverlässig erkennen
- Ungleichmäßigkeiten in den radialen Schichtdicken aufdecken
- Natürliche Farbwiedergabe in allen Intensitätsstufen ohne nachjustieren

- Reproduzierbare Ergebnisse